Aehr Test Systems Inc

Aehr Test Systems, Inc. bietet Testlösungen für den Test, das Einbrennen und die Prüfung von Halbleiterbauelementen auf Waferebene, singulären Chips, Gehäuseteilen und installierten Systemen in den Vereinigten Staaten, Asien und Europa. Das Produktportfolio umfasst FOX-XP- und FOX-NP-Systeme, bei denen es sich um vollständige Waferkontakt- und Singulated-Die/Modul-Test- und Burn-in-Systeme handelt, mit denen eine Reihe von Bauelementen getestet, eingebrannt und stabilisiert werden können, darunter Siliziumkarbid-basierte und andere Leistungshalbleiter, 2D- und 3D-Sensoren, die in Mobiltelefonen, Tablets und anderen Computergeräten verwendet werden, Speicher-Halbleiter, Prozessoren, Mikrocontroller, Systems-on-a-Chip sowie Photonik und integrierte optische Geräte. Das Unternehmen bietet auch das FOX-CP-System an, eine kostengünstige kompakte Single-Wafer-Testlösung für Logik-, Speicher- und Photonik-Bauteile. Darüber hinaus bietet es den FOX DiePak Carrier an, der das Testen, Einbrennen und Stabilisieren von vereinzelten Bare Die und Modulen ermöglicht.